DualScope FMP20兩用測(cè)厚儀德國(guó)菲希爾

DUALSCOPE FMP20涂鍍層測(cè)厚儀由于采用了磁感應(yīng)和電渦流兩種方法，F(xiàn)MP20涂鍍層測(cè)厚儀且具有自動(dòng)識(shí)別基材的功能，這臺(tái)通用型儀器可以測(cè)量鐵/鋼上、非磁性金屬基材上和非導(dǎo)電基材上眾多涂鍍層的厚度。

特征：

適用于所有磁感應(yīng)和渦流探頭

自動(dòng)探頭識(shí)別
自動(dòng)基材識(shí)別（FMP 20）
用戶友好的儀器操作
用于數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇C的USB端口
大，顯示與240x160像素豐富的對(duì)比
準(zhǔn)備在上電后進(jìn)行測(cè)量
探頭放置時(shí)自動(dòng)測(cè)量采集
內(nèi)存多達(dá)1000個(gè)讀數(shù)
測(cè)量采集時(shí)的聲音信號(hào)
共同特征值的統(tǒng)計(jì)顯示，如平均值，標(biāo)準(zhǔn)差，zui小值，
zui大，范圍
通過(guò)ZERO鍵通過(guò)歸一化，輕松適應(yīng)樣品的形狀

DualScope FMP20兩用測(cè)厚儀德國(guó)菲希爾

磁感應(yīng)測(cè)量原理

采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)樣本上時(shí)，儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小，儀器將該信號(hào)放大后來(lái)指示覆層厚度。近年來(lái)的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來(lái)調(diào)制測(cè)量信號(hào)。還采用設(shè)計(jì)的集成電路，引入微機(jī)，使測(cè)量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)量級(jí)）。現(xiàn)代的磁感應(yīng)測(cè)厚儀，分辨率達(dá)到0.1um，允許誤差達(dá)1%，量程達(dá)10mm。

電渦流測(cè)量原理

高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng)，測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類測(cè)頭專門(mén)測(cè)量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測(cè)頭。非磁性測(cè)頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較，主要區(qū)別是測(cè)頭不同，信號(hào)的頻率不同，信號(hào)的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測(cè)厚儀一樣，渦流測(cè)厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。

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